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ID | 642 | ![]() | ||
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設備名 | 走査型プローブ顕微鏡システム(SPM/AFM) | |||
型式 | AFM5300E | |||
メーカー | 日立ハイテクノロジーズ | |||
設備分野 | 分析・構造解析 | |||
設備紹介URL | https://www1.gifu-u.ac.jp/~lsrc/dia/instrument/SPM.html | |||
設備概要 | 環境制御型ユニットAFM5300Eは20 mm ×10 mm(厚さ)までの大きさの試料に対応可能で、温度可変(-120 ~ 300℃)および真空下で測定可能な設備を備えている。光学顕微鏡を備え、装置の調整、試料の位置合わせが容易である。電気化学 AFM・STM、真空中および温度制御分析には AFM5300E を用いる。データ処理部はFFTを始めとする各種のフィルターおよび画像解析プログラムを有し、視覚に訴える3次元画像を作成することができる。 | |||
設置場所 | 東海国立大学機構岐阜大学総合研究棟2 1階 機器分析室(6) | |||
部局名 | - | |||
管理施設・講座名(利用料振込先) | 東海国立大学機構岐阜大学 高等研究院 科学研究基盤センター 機器分析分野 | |||
共用対象 | 機構内外 | |||
予約方法 | メール予約 | |||
お問合せ先等 | kiki@gifu-u.ac.jp (科学研究基盤センター 機器分析分野) |