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| ID | 639 | ![]() | ||
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| 設備名 | 走査型電子顕微鏡(FE-SEM) | |||
| 型式 | S-4300(EDX EX-220) | |||
| メーカー | 日立ハイテクノロジーズ | |||
| 設備分野 | 分析・構造解析 | |||
| 設備紹介URL | https://www1.gifu-u.ac.jp/~lsrc/dia/instrument/TEM.html | |||
| 設備概要 | S-4300は電界放出型電子銃(FEG)を備えた装置で、加速電圧は0.5 ~ 30 kVの範囲で可変することが可能であり、倍率は20 - 500,000倍、分解能は1.5 nm(15 kV)および 5.0 nm(1 kV)である。高輝度な電子銃により、低加速電圧、例えば、1 kVでも高分解像を得ることが可能である。また、低加速電圧にて、無蒸着観察できる試料もある。装備されたX線分析装置EX-220は炭素などの元素分析ができる。 | |||
| 設置場所 | 東海国立大学機構岐阜大学総合研究棟2 1階 機器分析室(6) | |||
| 部局名 | - | |||
| 管理施設・講座名(利用料振込先) | 東海国立大学機構岐阜大学 高等研究院 科学研究基盤センター 機器分析分野 | |||
| 共用対象 | 機構内外 | |||
| 予約方法 | メール予約 | |||
| お問合せ先等 | kiki@gifu-u.ac.jp (科学研究基盤センター 機器分析分野) | |||