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ID | 638 | ![]() | ||
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設備名 | 走査型電子顕微鏡(N-SEM) | |||
型式 | S-3000N | |||
メーカー | 日立ハイテクノロジーズ | |||
設備分野 | 分析・構造解析 | |||
設備紹介URL | https://www1.gifu-u.ac.jp/~lsrc/dia/instrument/TEM.html | |||
設備概要 | S-3000Nは通常のタングステンヘアピン型(熱電子放出型)電子銃を備えた装置であり、加速電圧が0.3 ~ 30 kVの範囲で使用する。倍率は5 ~ 300,000倍で、二次電子像分解能は3.0 nm(高真空モード、加速電圧25 kV)、反射電子像分解能は4.0 nm(低真空モード、加速電圧 25 kV)である。このSEMの特徴は、低真空270 Pa(約 2 torr)で試料の観察が可能なことである。 | |||
設置場所 | 東海国立大学機構岐阜大学総合研究棟2 1階 機器分析室(6) | |||
部局名 | - | |||
管理施設・講座名(利用料振込先) | 東海国立大学機構岐阜大学 高等研究院 科学研究基盤センター 機器分析分野 | |||
共用対象 | 機構内外 | |||
予約方法 | メール予約 | |||
お問合せ先等 | kiki@gifu-u.ac.jp (科学研究基盤センター 機器分析分野) |