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ID | 636 | No Image | ||
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設備名 | 透過型電子顕微鏡(TEM) | |||
型式 | JEM-2100 | |||
メーカー | 日本電子株式会社 | |||
設備分野 | 分析 | |||
設備紹介URL | https://www1.gifu-u.ac.jp/~lsrc/dia/instrument.html | |||
設備概要 | JEM-2100は高出力・高精度のLaB6電子銃を搭載しており、5段階で加速電圧を200 kVまで上げることができる。生物・非生物材料の超薄切片を2,000倍から150万倍に拡大し、内部の微細構造を観察できる。格子像の分解能は1.4 Åである。データはCCDカメラに取り込み解析することが可能である。また、STEM 機能があり、対象を3次元で観察した3Dトモグラフを得ることもできる。加えて、接続したX線分析装置(EDX)によるホウ素より重い元素の分布解析も可能である。 | |||
設置場所 | 東海国立大学機構岐阜大学総合研究棟2 1階 機器分析室(4) | |||
部局名 | - | |||
管理施設・講座名(利用料振込先) | 東海国立大学機構岐阜大学 高等研究院 科学研究基盤センター 機器分析分野 | |||
共用対象 | 機構内外 | |||
予約方法 | メール予約 | |||
お問合せ先等 | kiki@gifu-u.ac.jp (科学研究基盤センター 機器分析分野) |