お知らせ
| 共通 | 利用をご希望の方、または機構外の方で受託試験をご希望の方はお問い合わせ先までご連絡ください。 |
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設備の詳細情報
| ID | 629 | No Image | ||
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| 設備名 | 質量分析装置 (LC-TOF-MS) | |||
| 型式 | JMS-T100LP | |||
| メーカー | 日本電子株式会社 | |||
| 設備分野 | 分析 | |||
| 設備紹介URL | https://www2.gifu-u.ac.jp/~lsrc/dia/instrument/MS.html | |||
| 設備概要 | JMS-T100LP (AccuTOF LC-plus) では、ESI法により高分子をフラグメント化することなくイオン化し分析できる。一方、DART 法を用いると、低極性から高極性までの幅広い試料を前処理することなしに分析が可能である。DART によるイオン化は励起状態のヘリウムが大気ガスおよび試料と相互作用することに基づいており、通常の分析機器では扱うことのできない、不定形の試料や汚れた試料もそのまま分析できることが特徴である。 | |||
| 設置場所 | 東海国立大学機構岐阜大学総合研究棟2 1階 機器分析室(1) | |||
| 部局名 | - | |||
| 管理施設・講座名（利用料振込先） | 東海国立大学機構岐阜大学 高等研究院 科学研究基盤センター 機器分析分野 | |||
| 共用対象 | 機構内外 | |||
| 予約方法 | メール予約 | |||
| お問合せ先等 | kiki@gifu-u.ac.jp （科学研究基盤センター 機器分析分野） | |||