設備の詳細情報

ID	627
設備名	走査型X線光電子分光分析装置
型式	Quantera SXM-GS
メーカー	アルバック・ファイ株式会社
設備分野	分析・構造解析
設備紹介URL	https://www1.gifu-u.ac.jp/~lsrc/dia/instrument/ESCA.html
設備概要	Quantera-SXM-GSは固体極表面の数原子層での元素組成や化学結合状態の分析が可能である。分析できる試料表面からの深さは0.5 ~ 5 nmほどで、走査電子顕微鏡のエネルギー分散型X線分析装置（SEM-EDX）などと比べて、物質の極表面の分析に適している。元素由来の光電子スペクトルで示される電子の原子核に対する結合エネルギーと放出された光電子の強度から、元素の同定、定量分析ができるほか、光電子ピークの微妙な化学シフトから、目的とする原子の化学結合状態も求めることができる。
設置場所	東海国立大学機構岐阜大学総合研究棟2　1階　機器分析室(7)
部局名	-
管理施設・講座名（利用料振込先）	東海国立大学機構岐阜大学　高等研究院　科学研究基盤センター　機器分析分野
共用対象	機構内外
予約方法	メール予約
お問合せ先等	kiki@gifu-u.ac.jp　（科学研究基盤センター　機器分析分野）